一种低温测试装置及测试方法

摘要

本发明适用于电子产品的测试技术领域，公开了一种低温测试装置及测试方法。上述低温测试装置包括制冷剂供应装置、容器和温度探测装置，所述容器通过输入管连接于所述制冷剂供应装置，所述容器上还连接有与外界相通的输出管。上述测试方法包括以下步骤，将容器的底部抵压于待测试的器件上；制冷剂供应装置通过输入管将制冷剂输入容器中，增大制冷剂的流量进一步降低待测试器件的温度，直到所述器件失效并记录所述器件失效时温度探测装置读取的温度。本发明所提供一种低温测试装置及测试方法，其可以有效、方便、准确地对局部器件进行低温可靠性测试，测试精确度佳。

主权项

一种低温测试装置，其特征在于，包括制冷剂供应装置、可抵压于电子产品局部器件的容器和用于探测所述电子产品局部器件温度的温度探测装置，所述容器与所述制冷剂供应装置之间连接有输入管，所述容器上还连接有与外界相通的输出管。