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发明名称
半导体记忆装置
摘要
实施形态之半导体记忆装置包含:第1至第3页、第1至第3字元线、及对第1及第2记忆胞之闸极施加电压之列解码器。于资料之写入时,对第1页写入资料,其后对第2页写入资料。列解码器于编程验证动作时对第1至第3记忆胞之闸极施加第1至第3验证电压。
申请公布号
TW201526001
申请公布日期
2015.07.01
申请号
TW103103010
申请日期
2014.01.27
申请人
东芝股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
发明人
阿部健一 ABE, KENICHI;白川政信 SHIRAKAWA, MASANOBU;吉田瑞穗 YOSHIDA, MIZUHO;二山拓也 FUTATSUYAMA, TAKUYA
分类号
G11C16/06(2006.01)
主分类号
G11C16/06(2006.01)
代理机构
代理人
陈长文
主权项
地址
日本 JP
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