发明名称 触控装置之及其触控判断方法
摘要 本发明为有关一种触控装置之及其触控判断方法,其系当触控装置之感测面板上有感测点之电容性耦合变化量小于预设负门槛值或大于预设正门槛值时,处理器会对第二二维感测资讯中之包括有该感测点之局部二维感测资讯进行运算,以得到平整度值,若该平整度值为介于预设平整度负比对值与预设平整度正比对值之间,则代表该感测点之电容性耦合量虽有变化,但没有外部物件之触碰,故处理器判断该感测点无外部物件触碰,藉此防止因去除感测面板上水渍移除等状况而造成之错误触控判断。
申请公布号 TW201525800 申请公布日期 2015.07.01
申请号 TW102148795 申请日期 2013.12.27
申请人 禾瑞亚科技股份有限公司 EGALAX_EMPIA TECHNOLOGY INC. 发明人 张钦富 CHANG, CHIN FU;叶尙泰 YEH, SHANG TAI
分类号 G06F3/041(2006.01);G06F3/044(2006.01) 主分类号 G06F3/041(2006.01)
代理机构 代理人 张朝坤陈惠蓉
主权项
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