| 发明名称 | 空间测角装置及测角方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种空间测角装置及测角方法，该空间测角装置包括双光谱自准直仪以及折转系统；折转系统包括分光光学元件以及折转镜片；分光光学元件表面涂有分光膜且设置在双光谱自准直仪的出射光路上；分光光学元件将双光谱自准直仪的出射光分为透射光以及反射光，被测第一方位棱镜设置在分光光学元件的透射光所在光路上，折转镜片设置在分光光学元件的反射光所在光路上；被测第二方位棱镜设置在经折转镜片反射后的反射光所在光路上。本发明提供了一种能够方便、快速地对同一空间内不同平面上的两个方位角同时进行测量的空间测角装置及测角方法。 | ||
| 申请公布号 | CN104748720A | 申请公布日期 | 2015.07.01 |
| 申请号 | CN201510142143.0 | 申请日期 | 2015.03.27 |
| 申请人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明人 | 肖茂森;陆卫国;王海霞;魏永静;刘爱敏 |
| 分类号 | G01C1/00(2006.01)I | 主分类号 | G01C1/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人 | 倪金荣 |
| 主权项 | 一种空间测角装置，其特征在于：包括双光谱自准直仪以及折转系统；所述折转系统包括分光光学元件以及折转镜片；分光光学元件表面涂有分光膜且设置在双光谱自准直仪的出射光路上；分光光学元件将双光谱自准直仪的出射光分为透射光以及反射光，被测第一方位棱镜设置在分光光学元件的透射光所在光路上，折转镜片设置在分光光学元件的反射光所在光路上；被测第二方位棱镜设置在经折转镜片反射后的反射光所在光路上。 | ||
| 地址 | 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号 | ||