发明名称 |
一种数据处理方法和装置 |
摘要 |
本发明实施例提供了一种数据处理方法,该方法通过获取训练样本,并初始化狄里克雷过程和高斯过程,该训练样本包括单元结构几何参数及对应的电磁响应曲线三次样条系数,根据训练样本,获取高斯过程参数的最大后验似然值对应的最大高斯过程参数和该最大高斯过程参数对应的区域划分,再根据最大高斯参数和最大高斯过程参数对应的区域划分,拟合单元结构几何参数及对应的电磁响应曲线三次样条系数的映射关系,在具体运用时,只要已知单元结构几何参数,就可以估计出非常接近的电磁响应曲线三次样条系数,从而可知对应的电磁响应曲线。 |
申请公布号 |
CN102768687B |
申请公布日期 |
2015.07.01 |
申请号 |
CN201110111943.8 |
申请日期 |
2011.04.30 |
申请人 |
深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司 |
发明人 |
刘若鹏;刘斌;季春霖;王睿 |
分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种数据处理方法,其特征在于,包括:获取训练样本,该训练样本包括超材料单元结构几何参数及对应的电磁响应曲线三次样条系数;初始化狄里克雷过程和高斯过程:对每个训练样本确定一个区域标识符,所述区域标识符指定了训练样本所划分到的区域;初始化每个标识符,使每个标识符随机分布到若干区域,每个区域对应一个高斯过程,运用狄里克雷过程中的断棍方法,通过贝塔分布生成每个区域出现的概率;初始化高斯过程参数,该参数包括似然值函数参数、中值函数参数以及核函数参数;根据所述训练样本,计算每个训练样本在每个区域内的高斯似然值,以及通过狄里克雷过程产生的每个区域出现的概率,获取高斯过程参数的最大后验似然值对应的最大高斯过程参数和所述最大高斯过程参数对应的区域划分;根据所述最大高斯过程参数和区域划分,拟合超材料单元结构几何参数及对应的电磁响应曲线三次样条系数的映射关系;根据外部输入的超材料单元结构几何参数和所述映射关系,获取所述外部输入的超材料单元结构几何参数对应的电磁响应曲线三次样条系数。 |
地址 |
518000 广东省深圳市南山区高新区中区高新中一道9号软件大厦 |