发明名称 |
集成传感器的测试方法及其测试系统 |
摘要 |
本发明涉及一种集成传感器的测试方法及其测试系统,其为依次将待测集成传感器的磁传感器和加速度传感器的X轴与地磁场和重力场方向平行,使用校准过的集成传感器测试装置依次读出待测集成传感器的X轴的磁场和重力场的测试输出,然后根据测试获得的输出数据计算得出待测集成传感器X轴的偏置输出和灵敏度。本发明涉及的集成传感器的测试方法及其测试系统,一次性的完成集成传感器的磁传感器和加速度传感器的测试,极大地提高了测试效率,并在一定程度上降低了集成传感器的生产成本,有利于集成传感器的大规模生产和普及。 |
申请公布号 |
CN103090900B |
申请公布日期 |
2015.07.01 |
申请号 |
CN201110350115.X |
申请日期 |
2011.11.08 |
申请人 |
美新半导体(无锡)有限公司 |
发明人 |
刘海东;顾浩琦;丁雪龙 |
分类号 |
G01D18/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01D18/00(2006.01)I |
代理机构 |
无锡互维知识产权代理有限公司 32236 |
代理人 |
王爱伟 |
主权项 |
一种集成传感器的测试方法,其中所述集成传感器包括磁传感器和加速度传感器,其特征在于:其包括以下步骤:将测试装置的X轴与当地磁场的磁力线平行;使用标准电路校准测试装置接口的X轴测试参数;将集成传感器接入测试装置的接口上,调整其磁传感器的X轴与地磁场的磁力线平行,读出测试装置对于所述磁传感器X轴的测试输出MX1;旋转磁传感器180度,读出其测试输出MX2;根据磁传感器的X轴的测试输出MX1和MX2,计算磁传感器X轴的偏置输出和/或灵敏度;调整集成传感器的位置,使得其加速度传感器的X轴与重力场方向平行,读出此时测试装置对于所述加速度传感器X轴的测试输出AX1;旋转加速度传感器180度,读出其测试输出AX2;根据加速度传感器X轴的测试输出AX1和AX2,计算加速度传感器X轴的偏置输出和/或灵敏度。 |
地址 |
214000 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新辉环路2号 |