发明名称 Connector for probe card inspection
摘要 <p>본 발명은 프로브 카드 검사용 커넥터에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 원형판 형상으로 다수의 관통공 열과 검사용 패턴이 형성된 베이스보드, 베이스보드의 각 관통공 열의 상측에 각각 배열되고, 내부에 각 관통공과 연통되도록 장착공간부를 갖는 하우징, 하우징의 양면을 따라 다수 개 구비되어 검사를 위한 프로브 카드와 접촉되기 위한 컨택트, 베이스보드의 하측에 위치되되, 각 관통공에 대응되도록 다수의 고정공이 형성되는 클램프플레이트 및 하우징의 장착공간부에 장착되고, 베이스보드의 각 관통공을 통과하여 클램프플레이트의 고정공에 걸려 하우징을 베이스보드에 고정시키는 삽입플레이트로 구성되며, 컨택트가 구비된 하우징을 교체할 경우, 클램프플레이트의 고정공을 통과한 삽입플레이트의 고정핀 단부를 절단시켜 베이스보드에서 분리시킬 수 있음에 따라 커넥터를 수평방향 변위 및 흔들림없이 용이하게 고정시켜 프로브 카드에 대한 검사가 이루어짐은 물론, 교체 시, 용이하게 분리시킬 수 있어 비용을 절감시키며, 작업효율을 향상시킬 수 있다.</p>
申请公布号 KR101532761(B1) 申请公布日期 2015.07.01
申请号 KR20130158700 申请日期 2013.12.18
申请人 发明人
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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