发明名称 |
用于沟道应变的锗分布 |
摘要 |
本发明涉及用于沟道应变的锗分布。本发明涉及一种晶体管器件,其具有应变源极/漏极区,应变源极/漏极区包括具有不连续的锗浓度分布的应变诱导材料。在一些实施例中,该晶体管器件具有设置在半导体衬底上的栅极结构。具有应变诱导材料的源极/漏极区沿着栅极结构的一侧设置在半导体衬底中的源极/漏极凹槽内。应变诱导材料具有沿着从源极/漏极凹槽的底面延伸到源极/漏极凹槽的顶面的线的不连续的锗浓度分布。不连续的锗浓度分布提供改进的应变增强和位错传播。 |
申请公布号 |
CN104733513A |
申请公布日期 |
2015.06.24 |
申请号 |
CN201410327471.3 |
申请日期 |
2014.07.10 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
宋学昌;郭紫微;李昆穆;李资良;李启弘 |
分类号 |
H01L29/16(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/16(2006.01)I |
代理机构 |
北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 |
代理人 |
章社杲;孙征 |
主权项 |
一种晶体管器件,包括:栅极结构,设置在半导体衬底上;以及应变源极/漏极区,包括应变诱导材料,所述应变诱导材料在位于所述半导体衬底中的源极/漏极凹槽内邻接所述栅极结构的位置处设置;其中,所述应变诱导材料包括应变诱导组分,所述应变诱导组分具有沿着从所述源极/漏极凹槽的底面延伸到所述源极/漏极凹槽的顶面的线的不连续的浓度分布。 |
地址 |
中国台湾新竹 |