发明名称 用于沟道应变的锗分布
摘要 本发明涉及用于沟道应变的锗分布。本发明涉及一种晶体管器件,其具有应变源极/漏极区,应变源极/漏极区包括具有不连续的锗浓度分布的应变诱导材料。在一些实施例中,该晶体管器件具有设置在半导体衬底上的栅极结构。具有应变诱导材料的源极/漏极区沿着栅极结构的一侧设置在半导体衬底中的源极/漏极凹槽内。应变诱导材料具有沿着从源极/漏极凹槽的底面延伸到源极/漏极凹槽的顶面的线的不连续的锗浓度分布。不连续的锗浓度分布提供改进的应变增强和位错传播。
申请公布号 CN104733513A 申请公布日期 2015.06.24
申请号 CN201410327471.3 申请日期 2014.07.10
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 宋学昌;郭紫微;李昆穆;李资良;李启弘
分类号 H01L29/16(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L29/16(2006.01)I
代理机构 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人 章社杲;孙征
主权项 一种晶体管器件,包括:栅极结构,设置在半导体衬底上;以及应变源极/漏极区,包括应变诱导材料,所述应变诱导材料在位于所述半导体衬底中的源极/漏极凹槽内邻接所述栅极结构的位置处设置;其中,所述应变诱导材料包括应变诱导组分,所述应变诱导组分具有沿着从所述源极/漏极凹槽的底面延伸到所述源极/漏极凹槽的顶面的线的不连续的浓度分布。
地址 中国台湾新竹