发明名称 |
工艺腔体保护罩 |
摘要 |
本发明公开了一种工艺腔体保护罩,应用于各种需要导出工艺废气的设备,例如电镀设备。该保护罩包括呈环状的壳体,所述壳体内部形成空腔,所述壳体的底面形成多处与空腔导通的通孔;所述壳体的侧部设置与空腔导通的排气管,该排气管连接排气系统。本发明一方面可以引导废气(例如酸性挥发气体)的走向,将其导入排气系统,从而减少晶圆在电镀之前或者电镀完成后由于酸性气体的腐蚀影响;另一方面可以在电镀腔体上方形成低密度空气,在电镀头下降沉入电镀腔液体时,可以有效避免在晶圆在进入电镀溶液时带入的微少气泡,防止这些气泡导致在电镀过程中形成大的空洞,导致晶圆良率降低。 |
申请公布号 |
CN102912406B |
申请公布日期 |
2015.06.24 |
申请号 |
CN201210451875.4 |
申请日期 |
2012.11.12 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
任存生;张旭昇;张传民;文静;金见安;苏亚青 |
分类号 |
C25D21/04(2006.01)I;C25D7/12(2006.01)I |
主分类号 |
C25D21/04(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
陆花 |
主权项 |
一种应用于半导体领域的电镀装备的工艺腔体保护罩,其特征在于:包括呈环状的壳体,所述壳体的外直径设计考虑电镀装备的电镀腔体的尺寸,内直径设计考虑晶圆电镀头的尺寸,以使电镀装备的电镀头下到电镀液中,以及起到防溅导气的功效;所述壳体内部形成空腔,所述壳体的底面形成多处与空腔导通的通孔;所述壳体的侧部设置与空腔导通的排气管,该排气管连接排气系统,所述排气系统使得所述排气管内呈真空;所述壳体的顶面及侧面为密封结构;所述壳体呈中部高、四周低的突起形状。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路497号 |