芯片检测用次品自动剔除装置

摘要

本实用新型公开了芯片检测用次品自动剔除装置，连接在芯片检测台上的吸料管周围，包括固定在芯片检测台上的支架，支架包括左、右连接部，左连接部和右连接部分别延伸至吸料管的两侧，并其上分别设置有左、右安装孔和；左安装孔和右安装孔相对设置；芯片检测台上还设有芯片放置台，芯片放置台位于吸料管的正下方位置，并沿吸料管的方向突起；左安装孔和右安装孔的中心位置处正对芯片放置台的顶部位置，并且左安装孔内连接吹气装置，右安装孔内连接收集管；本实用新型实现了芯片制造的检测工艺中的自动剔除次品，减少了人工剔除次品，并二次检测的环节，提高了芯片电特性检测工艺过程的效率，并降低了其生产成本。

主权项

芯片检测用次品自动剔除装置，连接在芯片检测台（1）上方的吸料管（2）周围，其特征在于：包括固定在芯片检测台（1）上的支架（3），所述支架（3）包括左、右连接部（31，32），所述左连接部（31）和右连接部（32）分别延伸至吸料管（2）的两侧，并其上分别设置有左、右安装孔（33,34）；所述左安装孔（33）和右安装孔（34）相对设置；所述芯片检测台（1）上还设有芯片放置台（7），所述芯片放置台（7）位于吸料管（2）的正下方位置，并沿吸料管（2）的方向突起；所述左安装孔（33）和右安装孔（34）的中心位置处正对芯片放置台（7）的顶部位置，并且所述左安装孔（33）内连接吹气装置（4），所述右安装孔（34）内连接收集管（5）。