| 发明名称 | 多端口射频元件的量测方法 | ||
| 摘要 | 一种多端口射频元件的量测方法，应用于多端口射频元件量测系统中多端口开关盒的校正，主要利用网络分析仪的量测端口间内部很高的隔离度，及多端口开关盒的两量测端口间内部很高的隔离度，使得EXF及EXR两个参数可以被忽略，并重复使用多端口开关盒各端口校正参数，以大幅减少多端口开关盒的双端口校正次数。 | ||
| 申请公布号 | CN104734789A | 申请公布日期 | 2015.06.24 |
| 申请号 | CN201310702841.2 | 申请日期 | 2013.12.19 |
| 申请人 | 梅尔根电子有限公司 | 发明人 | 李道根 |
| 分类号 | H04B17/15(2015.01)I;H04B17/29(2015.01)I | 主分类号 | H04B17/15(2015.01)I |
| 代理机构 | 天津三元专利商标代理有限责任公司 12203 | 代理人 | 崔钢 |
| 主权项 | 一种多端口射频元件的量测方法，其特征在于，应用于多端口射频元件量测系统中多端口开关盒的校正，主要利用网络分析仪的量测端口间内部很高的隔离度，及多端口开关盒的两量测端口间内部很高的隔离度，使得EXF及EXR两个参数可以被忽略，并重复使用多端口开关盒各端口校正参数，以大幅减少多端口开关盒的双端口校正次数。 | ||
| 地址 | 中国台湾高雄市鼓山区明华路323号巧楼之2 | ||