发明名称 |
一种光栅线宽比测量方法 |
摘要 |
本发明提出一种光栅线宽比测量方法,包括:提供SEM仪器以及已知线宽比的光栅;将一直线宽比的光栅放置于SEM仪器的载物台,调节放大倍数直至形成清晰地云纹条纹,记录形状参数,计算当前放大倍数下扫描线的线宽比,最终标定出一系列不同放大倍数下的SEM仪器扫描线线宽比;将未知线宽比的光栅放置于SEM载物台,调节SEM仪器的放大倍数直至形成清晰地云纹条纹,记录形状参数,查询前面标定得到当前放大倍数下SEM仪器扫描线的线宽比,结合反演方法计算得到未知线宽比的光栅的线宽比。本发明具有灵敏度高、测量视场大,以及SEM分辨率高、对样品无损伤、空间定位方便等优点,并且具有操作简单,过程快速、表征区域大、检测成本低等优点。 |
申请公布号 |
CN103149017B |
申请公布日期 |
2015.06.24 |
申请号 |
CN201310084490.3 |
申请日期 |
2013.03.15 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
谢惠民;朱荣华;唐敏锦;吴立夫 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 |
代理人 |
张大威 |
主权项 |
一种光栅线宽比测量方法,其特征在于,包括以下步骤:S1.提供SEM仪器以及已知线宽比为O<sub>0</sub>的光栅,将SEM仪器的扫描线视为试件栅,将已知线宽比为O<sub>0</sub>的光栅视为参考栅,二者叠加能够形成云纹;S2.将所述参考栅放置于SEM仪器的载物台中央,调节SEM仪器的放大倍数x直至形成清晰地云纹条纹,记录此时云纹条纹的形状参数,根据所述O<sub>0</sub>和所述形状参数计算当前放大倍数x下SEM仪器扫描线的线宽比O<sub>a</sub>,最终得到一系列x与O<sub>a</sub>的映射关系,即标定出不同放大倍数下的SEM仪器扫描线线宽比;S3.将未知线宽比的光栅放置于SEM仪器的载物台中央,调节SEM仪器的放大倍数直至形成清晰地云纹条纹,记录此时云纹条纹的形状参数,查询所述S2中标定得到当前放大倍数下SEM仪器扫描线的线宽比,结合反演方法计算得到未知线宽比的光栅的线宽比为O<sub>b</sub>。 |
地址 |
100084 北京市海淀区100084-82信箱 |