发明名称 | 一种基于FPGA的新型元器件测试方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种基于FPGA的测试系统及方法,调试设备通过通信接口电路发送测试配置数据至测试板,测试板上FPGA的中心控制单元接收测试配置数据进行初始化包括初始化被测器件的控制驱动模块。然后,调试设备通过通信接口电路发送控制指令至测试板,测试板上FPGA的中心控制单元接收控制指令,驱动测试流程包括输出控制信号至被测器件以及接收采集被测器件输出的测试数据。 | ||
申请公布号 | CN104730395A | 申请公布日期 | 2015.06.24 |
申请号 | CN201510157385.7 | 申请日期 | 2015.04.03 |
申请人 | 上海航天测控通信研究所 | 发明人 | 顾东梁;李超;王茂森;沈霞宏;张旭光;范宇飞 |
分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人 | 胡晶 |
主权项 | 一种基于FPGA的测试系统,其特征在于,包括调试设备以及测试板,所述调试设备连接所述测试板进行数据通信;所述测试板包括:中心控制单元;通信接口电路,连接所述调试设备与所述中心控制单元;驱动接口电路,连接所述中心控制单元与被测器件;其中,所述中心控制单元包括:命令解析模块,通过所述通信接口电路连接所述调试设备,用以解析控制指令并且发送对应的控制信号;处理器模块,连接所述命令解析模块,以中断方式接受所述控制信号,发出对应的驱动信号;控制驱动模块,连接所述处理器模块并通过所述驱动接口电路连接被测器件,接受所述驱动信号并驱动被测元器件进行测试,同时采集被测器件的测试数据;通讯模块,通过所述通信接口电路连接所述调试设备,接受所述调试设备的测试设置并且发送所述测试数据至所述调试设备。 | ||
地址 | 200080 上海市虹口区新港街道天宝路881号 |