| 发明名称 | 包括具有内部校准信号的配件的测量系统 | ||
| 摘要 | 提供了包括具有内部校准信号的配件的测量系统。一种用于与测试和测量仪器一起使用的配件。该配件包括用来接收来自处于测试当中的设备的信号的输入、被配置成应用在配件内部的校准或补偿信号的校准单元、以及用来将来自处于测试当中的设备的信号或者校准或补偿信号输出到测试和测量仪器的输出。 | ||
| 申请公布号 | CN104729539A | 申请公布日期 | 2015.06.24 |
| 申请号 | CN201410787366.8 | 申请日期 | 2014.12.18 |
| 申请人 | 特克特朗尼克公司 | 发明人 | M. J. 门德;R. A. 布曼 |
| 分类号 | G01D3/00(2006.01)I;G01D18/00(2006.01)I | 主分类号 | G01D3/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 张凌苗;陈岚 |
| 主权项 | 一种用于与测试和测量仪器一起使用的配件，包括：输入，用来接收来自处于测试当中的设备的信号；校准单元，被配置成应用在所述配件内部的校准或补偿信号；以及输出，用来将来自处于测试当中的设备的信号或者校准或补偿信号输出到测试和测量仪器。 | ||
| 地址 | 美国俄勒冈州 | ||