对珍珠进行检测和光泽分级的装置及方法

摘要

本发明属于珍珠的质检领域，特别公开了一种对珍珠进行检测和光泽分级的装置和方法。本发明在现有激光共聚焦显微镜基础上特设了微分干涉棱镜，将一束光分解成偏振方向不同的两束光，偏振光照射到样品表面，光发生了相移后，在经过物镜的汇聚达到微分干涉棱镜上，棱镜将两束互相垂直的偏振光重新组合成同一束光，并将相位差转换到振幅上，从而形成具有明暗差别的图像。本发明设备结构简单，使用简便快捷，测量精确度高，检测方法对样品无损伤，可以在更高的分辨率先观察到珍珠表面的三维形貌，并获得其缺陷情况和表面粗糙度。

主权项

一种对珍珠进行检测和光泽分级的装置，包括载物台（12）以及通过机械臂与载物台（12）连接的光学部分，其特征在于：所述光学部分内安装有半导体激光器光源（1），半导体激光器光源（1）一侧设置有分束镜（2），分束镜（2）下方由上至下设有微分干涉棱镜（3）和物镜（4），分束镜（2）上方由下往上依次设置有双针孔结构和扫描探测器（5），双针孔结构由两个相同的共聚焦针孔结构上下平行叠放构成，每一个共聚焦针孔结构都由光电倍增管（6）、针孔（7）和透镜（8）组成，针孔（7）位于像平面位置，透镜（8）位于分束镜（2）上方的光路上，分束镜（2）与半导体激光器光源（1）输出的激光和微分干涉棱镜（3）均呈45度夹角；所述针孔（7）的直径为25~50µm；所述载物台（12）上设置底面光滑、上表面有半圆形凹孔（14）的载玻片（13）；所述物镜（4）一侧连接有步进电机（9），扫描探测器（5）与计算机连接；所述物镜（4）由多个物镜镜头组成，且与半导体激光器的波长匹配。