发明名称 | 基于分布式光源的辐射成像系统 | ||
摘要 | 公开了一种辐射成像系统,包括:射线源,包括多个X射线发生器,分布在与被检查物体的行进方向交叉的一个或者多个平面上;探测器模块,包括多个探测单元;数据采集电路;控制器,控制射线源中的所述多个X射线发生器的至少两个X射线发生器轮流产生X射线,从而随着被检查物体的移动而发出穿透被检查物体,并且控制探测器模块和数据采集电路,分别获得与至少两个X射线发生器相对应的探测数据;数据处理计算机,基于探测数据重建至少两个X射线发生器的视角下的被检查物体的图像。上述实施例中,通过采用分布式X射线源,并采取探测器复用的方式,实现单一扫描面内的多视角透视成像系统。 | ||
申请公布号 | CN204422777U | 申请公布日期 | 2015.06.24 |
申请号 | CN201420804697.3 | 申请日期 | 2014.12.17 |
申请人 | 同方威视技术股份有限公司 | 发明人 | 张丽;金鑫;唐华平;黄清萍;孙运达;陈志强 |
分类号 | G01V5/00(2006.01)I | 主分类号 | G01V5/00(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 王波波 |
主权项 | 一种辐射成像系统,其特征在于,包括:射线源,包括多个X射线发生器,所述多个X射线发生器分布在与被检查物体的行进方向交叉的一个或者多个平面上;探测器模块,包括多个探测单元,接收穿透被检查物体的X射线;数据采集电路,与所述探测器模块耦接,将所述探测器模块产生的信号转换为探测数据;控制器,与所述射线源、所述探测器模块和所述数据采集电路连接,控制所述射线源中的所述多个X射线发生器的至少两个X射线发生器轮流产生X射线,从而随着被检查物体的移动而发出穿透所述被检查物体,并且控制所述探测器模块和所述数据采集电路,分别获得与所述至少两个X射线发生器相对应的探测数据;数据处理计算机,基于所述探测数据重建所述至少两个X射线发生器的视角下的被检查物体的图像。 | ||
地址 | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |