| 发明名称 | 高精度与高抗干扰性定位PCB板Mark点的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种高精度与高抗干扰性定位PCB板Mark点的方法及装置，所述的高精度与高抗干扰性定位PCB板Mark点的方法包括：对待定位基准点Mark点的图片按照像素值之间的差值进行图片分割，得到子图片，采用形心法获取所述子图片中圆形区域的粗略圆心和粗略半径，基于所述圆形区域的粗略圆心和粗略半径，利用探针法确定所述图片中的基准点。能够有效去除其它圆形物的干扰，提高PCB板基准点定位的抗干扰性，进一步的提升了定位精度。 | ||
| 申请公布号 | CN104732207A | 申请公布日期 | 2015.06.24 |
| 申请号 | CN201510108871.X | 申请日期 | 2015.03.12 |
| 申请人 | 广东工业大学 | 发明人 | 高健;曾友;简川霞;姜永军;卜研;岑誉;陈新;汤晖 |
| 分类号 | G06K9/00(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I | 主分类号 | G06K9/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人 | 路凯;胡彬 |
| 主权项 | 一种高精度与高抗干扰性定位PCB板Mark点的方法，包括：对待定位基准点Mark点的图片按照像素值之间的差值进行图片分割，得到子图片；采用形心法获取所述子图片中圆形区域的粗略圆心和粗略半径；基于所述圆形区域的粗略圆心和粗略半径，利用探针法确定所述图片中的基准点。 | ||
| 地址 | 510006 广东省广州市番禺区小谷围岛广州大学城外环西路100号 | ||