发明名称 形成含矽膜的方法
摘要
申请公布号 TWI489547 申请公布日期 2015.06.21
申请号 TW097135763 申请日期 2008.09.18
申请人 液态空气乔治斯克劳帝方法研究开发股份有限公司 发明人 克里斯均 杜萨拉特
分类号 H01L21/31;C23C16/455 主分类号 H01L21/31
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 一种形成含矽膜的方法,其包括:a)在反应室中提供基板;b)将至少一种含矽化合物注入该反应室中,其中该含矽化合物系选自由下列所构成的群组:1)选自由二乙基胺基矽烷SiH3NEt2;二异丙基胺基矽烷SiH3N(iPr)2;二第三丁基胺基矽烷SiH3N(tBu)2;双(二乙基胺基)矽烷(BDEAS)SiH2(NEt2)2;双(二甲基胺基)矽烷(BDMAS)SiH2(NMe2)2;双(第三丁基胺基)矽烷(BTBAS)SiH2(NHtBu)2;双(三甲基矽烷基胺基)矽烷(BITS)SiH2(NHSiMe3)2所构成的群组之胺基矽烷化合物;2)具有式(SiH3)2NR的二矽烷基胺化合物,其中R独立地为H、C1-C6之直链、支链或环状碳链;及3)具有式(SiH3)nR的矽烷化合物,其中n被包括在介于1与4之间,R则选自由H、N、NH、O、SO3CF3、CH2、C2H4、SiH2、SiH以及Si所构成的群组中;c)将至少一种呈气态形式的共反应物注入该反应室中;以及d)使基板、含矽化合物及呈气态形式的共反应物在等于或低于550℃之温度下反应,以获得沉积在该 基板上的含矽膜,其中该膜系藉由原子层沉积(ALD)或电浆辅助原子层沈积(PEALD)型式程序沉积。
地址 法国
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