发明名称 抗腐蚀薄膜电阻之结构
摘要
申请公布号 TWM503637 申请公布日期 2015.06.21
申请号 TW103211952 申请日期 2014.07.04
申请人 魏石龙 发明人 魏石龙
分类号 H01C7/00 主分类号 H01C7/00
代理机构 代理人
主权项 一种抗腐蚀薄膜电阻之结构,其包含:一薄膜电阻;及一利用反应性溅镀(Reactive Sputtering)之方式设于该薄膜电阻上之保护层,系避免电阻因电蚀效应导致电气特性产生异变,且该保护层系包含至少一矽(Si)或钽(Ta)之镀膜靶材。
地址 新北市永和区保生路2号10楼