| 发明名称 |
Vorrichtung zur Güte-Überwachung beim Vergiessen einer Elektronik-Leiterplatte |
| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Güte-Überwachung beim Vergiessen einer Elektronik-Leiterplatte (10, 30), dadurch gekennzeichnet, dass sie eine kapazitive Füllstands-Messvorrichtung (20, 32) zur Bestimmung einer Füllhöhe einer Vergussmasse in einem Behälter (12) oder in einer Giessform umfasst.</p> |
| 申请公布号 |
DE102013114238(A1) |
申请公布日期 |
2015.06.18 |
| 申请号 |
DE201310114238 |
申请日期 |
2013.12.17 |
| 申请人 |
ENDRESS + HAUSER GMBH + CO. KG |
发明人 |
BUSCHKE, INGO;BIRGEL, DIETMAR |
| 分类号 |
H05K3/28;G01F23/24;G01F23/26 |
主分类号 |
H05K3/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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