发明名称 一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法
摘要 本发明提供了一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法,属于石油勘探、开发领域。本发明依据孔隙度测井测量原理,通过分析影响测井孔隙度曲线值大小的因素,给出了在高矿化度泥浆滤液、低孔低渗气藏中识别气层、水层的方法。本发明提供的基于低孔低渗储层的气、水层识别方法易于实施,可操作性强,识别直观、清晰;利用本发明可以在节约成本的同时大大提高气层流体识别的准确度;在现场实际中应用范围很广,不论是低孔低渗的火山岩还是碳酸盐和砂泥岩,本发明均具有很强的可操作性。
申请公布号 CN102454398B 申请公布日期 2015.06.17
申请号 CN201010522927.3 申请日期 2010.10.28
申请人 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 发明人 李浩;魏修平
分类号 E21B47/00(2012.01)I;E21B49/00(2006.01)I 主分类号 E21B47/00(2012.01)I
代理机构 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人 刘明华
主权项 一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法,其特征在于:所述方法基于孔隙度测井的测量原理,分析影响测井孔隙度曲线值大小的因素,然后对于低孔低渗储层中的气层,重构含气识别组合曲线,在气层实现孔隙度的重新有序排列;对于低孔低渗储层中的水层,考虑泥浆滤液矿化度对中子孔隙度的影响;最终获得所研究地区的储层分类识别依据;所述重构含气识别组合曲线具体如下:在井径质量好的条件下,高电阻率的地层被认为是致密干层,此时该层的孔隙度视同为零;看该层段的密度、中子计算孔隙度曲线哪条为零或近似为零;在中子、密度的孔隙度曲线的图头刻度设为0‑50的条件下,以致密干层处为零或近似为零处的密度孔隙度曲线作为基线,如果中子孔隙度曲线在该层段为2%,说明中子测井值需要校正,因此把中子孔隙度曲线刻度改为2‑52,则这两条孔隙度曲线在致密干层处实现了重合;所述方法包括以下步骤:(1)将补偿中子、密度测井曲线根据各自的响应方程分别计算并得到相对应的孔隙度测井曲线,建立孔隙度测井曲线组合;(2)对所述孔隙度测井曲线进行校正,根据校正后的孔隙度测井曲线组合,结合包括自然伽玛、自然电位、电阻率在内的常规测井曲线组成测井曲线剖面图;(3)依据步骤(2)得到的测井曲线剖面图,结合生产测试,寻找已知储层判别依据,分别形成低孔低渗储层中气层、气水同层、水层以及干层的测井曲线识别图版;(4)依据步骤(3)得到的测井曲线识别图版,建立研究地区的储层分类识别依据,有效识别未知气藏中的各种流体。
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