发明名称 | 测定装置及测定方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种能够实现测定时间缩短化的测定装置及测定方法。本发明的测定装置(10),其具备:读入部(21),其读入多个时间段的数据;设定部(12),其设定每个时间段的测定项目;附加时间表(23),按每个测定项目存储预先设定的附加时间;测定期间设定部(22),其通过在分配于时间段的时间的前后附加附加时间来设定用于测定时间段的数据的测定期间;及测定部(30),在测定期间测定时间段的数据的特性。 | ||
申请公布号 | CN103248438B | 申请公布日期 | 2015.06.17 |
申请号 | CN201310049287.2 | 申请日期 | 2013.02.07 |
申请人 | 安立股份有限公司 | 发明人 | 三崎裕司 |
分类号 | H04B17/00(2015.01)I | 主分类号 | H04B17/00(2015.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 张银英 |
主权项 | 一种测定装置(10),其为了从被测终端(40)输入帧信号,并测定包含于所述帧信号且被分时的分时数据的特性而具有:测定项目设定构件(12),设定每个所述分时数据的测定项目;分时数据读入构件(21),读入所述各分时数据;及分时数据测定构件(30),在测定期间测定所述分时数据的特性,所述测定装置的特征在于,其具备:附加时间存储构件(23),按每个所述测定项目存储预先设定的附加时间(t1);及测定期间设定构件(22),其通过在分配于所述分时数据的时间(t0、t2)的前后加上所述附加时间来设定用于测定所述分时数据的测定期间(T1、T2)。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |