发明名称 |
基于MagNet有限元的磁阀式可控电抗器结构优化方法 |
摘要 |
一种基于MagNet有限元的磁阀式可控电抗器结构优化方法。其包括绘制磁阀式可控电抗器铁芯尺寸图;建立磁阀式可控电抗器中矩形磁阀结构模型;分析磁阀式可控电抗器各部位的损耗分布;绘制磁阀式可控电抗器内部磁力线分布图;优化磁阀设计;检验优化结果等步骤。本发明提供的基于MagNet有限元的磁阀式可控电抗器结构优化方法的效果:本发明主要研究铁耗的形成机理,绘制出各部位的损耗分布,根据研究结果,针对磁阀结构饱和时产生的边缘效应,对矩形磁阀结构进行了优化设计,结果表明优化后的结构在磁阀饱和时漏磁明显减少,从而使电抗器性能得到提高。 |
申请公布号 |
CN104715119A |
申请公布日期 |
2015.06.17 |
申请号 |
CN201510137481.5 |
申请日期 |
2015.03.26 |
申请人 |
国家电网公司;国网天津市电力公司 |
发明人 |
王梦;方菲;王楠;王兆峰;郭晋芳;昝晶晶;范须露;孔德来 |
分类号 |
G06F17/50(2006.01)I;H01F41/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 |
天津才智专利商标代理有限公司 12108 |
代理人 |
庞学欣 |
主权项 |
一种基于MagNet有限元的磁阀式可控电抗器结构优化方法,其特征在于:其包括按顺序执行的下列步骤:步骤一、绘制磁阀式可控电抗器铁芯尺寸图:以mm为单位,绘制磁阀式可控电抗器铁芯的结构平面图;步骤二、建立磁阀式可控电抗器中矩形磁阀结构模型:确定矩形磁阀的面积和高度,并在MagNet中建立模型;步骤三、分析磁阀式可控电抗器各部位的损耗分布,由此得出损耗分布情况,矩形磁阀处的铁芯损耗较大,损耗主要集中在内柱和边柱上,连接轭的损耗很小;步骤四、绘制磁阀式可控电抗器内部磁力线分布图,分析涡流损耗情况;步骤五、优化磁阀设计:针对矩形磁阀结构饱和时产生的边缘效应,对矩形磁阀结构进行优化设计;步骤六、检验优化结果:比较矩形结构和优化后磁阀饱和的磁密分布和边缘漏磁场,检验优化效果。 |
地址 |
300010 天津市河北区五经路39号 |