检测功率半导体开关中的短路状态或过电流状态的设备和方法

摘要

本发明涉及一种用于检测功率半导体开关的电压变化过程的示例性设备，其包括电阻性-电容性网络、计时器电路，其中该计时器电路设计成，如果该功率半导体开关接通后在功率半导体开关上的电压不低于预定值，则将该检测信号的水平提高到高于预定的阈电压，并且其中该电阻性-电容性网络如此设计，以致补偿或过补偿该用于检测功率半导体开关的电压变化过程的设备的寄生电容，以防止该计时器电路将该检测信号的水平提高到高于预定的阈电压，尽管该功率半导体开关接通后在功率半导体开关上的电压降到低于该预定值，该设备还包括任选的第一和第二箝位电路。

主权项

一种用于检测功率半导体开关的电压变化过程的设备，其中该设备包括：具有第一、第二、第三和第四节点的电阻性‑电容性网络，其中该电阻性‑电容性网络设计成，在该第一节点上与功率半导体开关的第一连接端相连接，并在该第二节点上提供代表该功率半导体开关的电压的信号，其中该电阻性‑电容性网络包括至少一个耦合在第一和第二节点之间的阻抗、耦合在第二节点和第三节点之间的第一电阻性元件和耦合在第二节点和第四节点之间的第一电容性元件，其中该用于检测功率半导体开关的电压变化过程的设备还包括：计时器电路，其与该电阻性‑电容性网络的第三节点相连接，并设计成产生代表该功率半导体开关接通后该功率半导体开关的电压变化过程的检测信号，其中该计时器电路设计成，如果该功率半导体开关接通后该功率半导体开关的电压未降到低于预定的值，则该计时器电路将该检测信号的水平升高到高于预定的阈电压，和其中该电阻性‑电容性网络设计成补偿或过补偿该用于检测该功率半导体开关的电压变化过程的设备的寄生电容，以防止该计时器电路在以下情况下将该检测信号的水平升高到高于预定的阈电压：即使该功率半导体开关接通后该功率半导体开关的电压降到低于预定值。