发明名称 |
用于将平面设计转换为FinFET设计的系统和方法 |
摘要 |
公开了用于根据具有平面晶体管的器件的第一布局生成具有FinFET的器件的布局的方法。分析平面布局,并生成对应的FinFET结构。本发明还提供了用于将平面设计转换为FinFET设计的系统和方法。 |
申请公布号 |
CN102760180B |
申请公布日期 |
2015.06.17 |
申请号 |
CN201210125532.9 |
申请日期 |
2012.04.25 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
李焯基;林以唐;陈小惠;张祐宁;陈姝妤;陈建文;张智胜;万幸仁 |
分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 |
北京德恒律师事务所 11306 |
代理人 |
陆鑫;房岭梅 |
主权项 |
一种生成包括FinFET结构布局的集成电路IC设计的方法,所述方法包括:接收用于IC设计的平面结构布局,所述平面结构布局包括多个平面有源区域;生成多个FinFET有源区域,所述多个FinFET有源区域对应于所述多个平面有源区域;限定多个FinFET单元,其中,每个FinFET单元均包括一个或多个FinFET边界,所述一个或多个FinFET边界包括所述多个FinFET有源区域中的一个或多个;确定所述多个FinFET单元的每一个是否包括对称FinFET边界;以及在对应于对称FinFET边界的FinFET单元中生成芯轴,以创建内部对称的FinFET边界或者多于一个的FinFET边界,其中,所述多于一个的FinFET边界中的每一个都具有相同数量或相同位置的芯轴,确定所述多个FinFET单元中的每一个是否包括对称FinFET边界,包括:对于每个FinFET单元,确定单元中心线和单元中心点;将所述单元中心线的一侧的FinFET单元中的FinFET边界与所述单元中心线的另一侧的FinFET边界进行比较;如果所述单元中心线的一侧的FinFET单元中的FinFET边界基本为所述单元中心线的另一侧的FinFET边界的镜像,则确定该FinFET单元包括对称FinFET边界;以及如果所述单元中心线的一侧的FinFET单元中的FinFET边界基本为相对于所述单元中心线的另一侧的FinFET边界的单元中心点的旋转图像,则确定该FinFET单元包括对称FinFET边界。 |
地址 |
中国台湾新竹 |