发明名称 | 一种基于伪Zernike矩的亚像素边缘检测方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种基于伪Zernike矩的亚像素边缘检测方法,其特征在于包括以下步骤:S1:对输入图像进行去除噪处理;S2:将完成去噪处理的图像进行像素级边缘检测:S3:采用伪Zernike矩方法对待处理图像进行亚像素边缘检测:S4:对待处理图像进行边缘位置的误差补偿:S5:获得亚像素边缘检测的修正实际边缘,对待处理图像的所有像素按照S4的方式进行处理、完成图像的亚像素边缘检测。本发明所提的方法对噪声不敏感,提高了亚像素边缘的精度,并且减少了检测边缘所需的计算复杂度。 | ||
申请公布号 | CN104715487A | 申请公布日期 | 2015.06.17 |
申请号 | CN201510153151.5 | 申请日期 | 2015.04.01 |
申请人 | 大连理工大学 | 发明人 | 陈喆;殷福亮;杨兵兵 |
分类号 | G06T7/00(2006.01)I | 主分类号 | G06T7/00(2006.01)I |
代理机构 | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人 | 姜玉蓉;李洪福 |
主权项 | 一种基于伪Zernike矩的亚像素边缘检测方法,其特征在于包括以下步骤:S1:对输入图像进行去除噪处理;S2:将完成去噪处理的图像进行像素级边缘检测:以待处理图像中待处理像素为中心,对该像素点的周围四个方向的像素的灰度进行加权运算,从水平和垂直的方向进行边缘检测,按照上述方式对待处理图像的所有像素进行像素级边缘检测;S3:采用伪Zernike矩方法对待处理图像进行亚像素边缘检测:建立边缘检测模型,对待处理图像的所有像素进行如下处理:计算像素的正交复多项式、利用正交复多形式的结果计算像素相关矩的系数,利用相关矩的系数计算相关矩的大小,利用相关矩的结果来计算出边缘的参数,利用边缘参数计算像素真实的边缘位置;S4:对待处理图像进行边缘位置的误差补偿:建立误差补偿边缘模型,利用该模型求像素的伪Zernike矩,采用误差补偿边缘求得像素的边缘位置估值、实际的边缘误差和理论边缘误差;S5:获得亚像素边缘检测的修正实际边缘,对待处理图像的所有像素按照S4的方式进行处理、完成图像的亚像素边缘检测。 | ||
地址 | 116024 辽宁省大连市高新园区凌工路2号 |