发明名称 |
射频裂解硒蒸气制作铜铟镓硒薄膜的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种射频裂解硒蒸气制作铜铟镓硒薄膜的方法,其特点是:步骤包括:1.将硒蒸发源通向射频裂解区域;2.硒蒸发源由n≥5的Se<sub>n</sub>大原子团蒸气,在等离子体撞击下裂解为n<5的Se<sub>n</sub>小原子团;3.将Se<sub>n</sub>小原子团蒸气与Cu、In、Ga元素共蒸发反应,在衬底上形成铜铟镓硒薄膜。本发明采用RC振荡电路产生频率射频电场,在射频电场中通入Ar气,Ar气在射频电场的作用下形成等离子体区域作为射频裂解区域;无需高温加热,等离子体将n≥5的Se<sub>n</sub>大原子团撞击裂解为n<5的Se<sub>n</sub>小原子团,提高了硒蒸气化学活性,改善了CIGS薄膜质量,提高了硒原料利用率,避免高温环境下硒蒸气对裂解装置的腐蚀,装置使用寿命长。 |
申请公布号 |
CN104716222A |
申请公布日期 |
2015.06.17 |
申请号 |
CN201310672059.0 |
申请日期 |
2013.12.11 |
申请人 |
中国电子科技集团公司第十八研究所 |
发明人 |
王赫;乔在祥;赵彦民;赵岳;申绪男;杨亦桐 |
分类号 |
H01L31/18(2006.01)I;H01L21/203(2006.01)I |
主分类号 |
H01L31/18(2006.01)I |
代理机构 |
天津市鼎和专利商标代理有限公司 12101 |
代理人 |
李凤 |
主权项 |
射频裂解硒蒸气制作铜铟镓硒薄膜的方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1.将装有固态Se作为硒蒸发源的装置通向底电极板和顶电极板之间、输出功率为输入功率80%‑95%的射频裂解区域;步骤2.加热衬底至400‑500℃、加热Cu蒸发源温度至1200‑1400℃、加热In蒸发源温度至800‑1000℃、加热Ga蒸发源温度至900‑1100℃;加热硒蒸发源温度至200‑300℃,硒蒸发源形成n≥5的Se<sub>n</sub>大原子团蒸气,进入到离子体区域,Se<sub>n</sub>大原子团蒸气在等离子体撞击下裂解为n<5的Se<sub>n</sub>小原子团蒸气;步骤3.将步骤2中Se<sub>n</sub>小原子团蒸气与Cu、In、Ga元素共蒸发反应,在衬底上形成铜铟镓硒薄膜,完成射频裂解硒蒸气制作铜铟镓硒薄膜的过程。 |
地址 |
300384 天津市西青区海泰工业园华科七路6号 |