发明名称 一种小功率发光器件的筛选测试方法
摘要 本发明属于筛选测试技术领域,涉及一种小功率发光器件的筛选测试方法。本发明包括以下步骤:1)储存;2)初次目检;3)初测初筛;4)将发光器件在额定电流下进行高温电老炼试验,试验结束后发光器件随炉降温,试验期间检查发光器件输出是否正常;5)二次目检;6)终测;7)精筛。本发明可对小功率发光器件进行批次性筛选测试,实用性强,效率高。
申请公布号 CN104713701A 申请公布日期 2015.06.17
申请号 CN201310676620.2 申请日期 2013.12.11
申请人 中国航空工业第六一八研究所 发明人 张珂;白晓荣;杨卫民
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 中国航空专利中心 11008 代理人 杜永保
主权项 一种小功率发光器件的筛选测试方法,其特征为所述筛选测试方法包括以下步骤:步骤一,储存:发光器件首先在干燥柜存放至少1个月;步骤二,初次目检:用显微镜目检发光器件外观,剔除有缺陷的发光器件;步骤三,初测初筛:用光功率计和数字电压表,检测发光器件的功率输出和电特性,持续测试一段时间t;采集并记录t时间段内数据,计算发光器件初始功率输出稳态值P1,P1为发光器件在t时间段内稳定输出状态的平均值;记录此时环境温度T1;剔除电特性超出指标的发光器件;步骤四,将发光器件在额定电流下进行高温电老炼试验,试验结束后发光器件随炉降温,试验期间检查发光器件输出是否正常;步骤五,二次目检:用显微镜目检发光器件外观,剔除有缺陷的发光器件;步骤六,终测:用光功率计和数字电压表,检测发光器件的功率输出和电特性,持续测试一段时间t;采集并记录t时间段内数据,计算发光器件最终功率输出稳态值P2,P2为发光器件在t时间段内稳定输出状态的平均值;记录此时环境温度T2;剔除电特性超出指标的发光器件;步骤七,精筛:代入以下公式,得出发光器件光功率衰减量ξ:<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>&xi;</mi><mo>=</mo><mfrac><mrow><mi>P</mi><mn>1</mn><mo>-</mo><mi>P</mi><mn>2</mn></mrow><mrow><mi>P</mi><mn>1</mn></mrow></mfrac><mo>&times;</mo><mn>100</mn><mo>%</mo><mo>+</mo><mrow><mo>(</mo><mi>T</mi><mn>1</mn><mo>-</mo><mi>T</mi><mn>2</mn><mo>)</mo></mrow><mi>&alpha;</mi></mrow>]]></math><img file="FDA0000435036890000011.GIF" wi="926" he="151" /></maths>其中,α为发光器件温度系数,单位%/℃;根据功率衰减指标,剔除衰减量超出指标、性能有缺陷的发光器件。
地址 710065 陕西省西安市雁塔区电子一路92号