发明名称 双进料的电路板检测方法及其系统
摘要 本发明公开了一种双进料的电路板检测方法及其系统,应用于具有一影像捕获设备及借由该影像捕获设备撷取具有一预定宽度的待测电路板的单进料检测系统,本发明借由对位于进料区的两堆堆栈的待测电路板间的预定距离的设定以及待测电路板的宽度总和的筛选,使得原本仅用于单进料的检测系统仅需改变进料区的配置及检测影像数据的辨识规则,进而无须改变其他装置即可直接升级成双进料的检测系统,不但可使进料量倍增,还可大幅缩减整批待测电路板所需的检测时间,进一步地更可使检测系统的使用效益大幅提高。
申请公布号 CN104713477A 申请公布日期 2015.06.17
申请号 CN201410004697.X 申请日期 2014.01.06
申请人 牧德科技股份有限公司 发明人 汪光夏;王舜民;林颖璋
分类号 G01B11/00(2006.01)I;G01N21/89(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙) 11276 代理人 宋菲;刘云贵
主权项 一种双进料的电路板检测方法,其特征在于,应用于具有一影像捕获设备及借由该影像捕获设备撷取具有一预定宽度的待测电路板的单进料检测系统,该电路板检测方法包含:在进料区堆栈两堆经筛选的第一堆待测电路板及第二堆待测电路板,这两堆待测电路板相隔一预定距离;自这两堆待测电路板各提取一待测电路板置放于该检测系统的输送带上,且基于该预定距离使这两个待测电路板在该输送带上彼此具有一间隔;该影像捕获设备撷取这两个待测电路板的影像以产生一检测影像数据;及基于该预定距离的信息,将该检测影像数据分割为分别对应这两个待测电路板的第一检测结果及第二检测结果,其中,经筛选的这两堆待测电路板用于使位于该输送带上的这两个待测电路板的宽度总和加上该预定距离小于该预定宽度。
地址 中国台湾新竹