发明名称 |
凹部之充塡方法及处理装置;DEPRESSION FILLING METHOD AND PROCESSING APPARATUS |
摘要 |
本发明提供一种凹部之充填方法及处理装置,该凹部之充填方法,充填被处理体的凹部,该被处理体,具有半导体基板及设置于该半导体基板上之绝缘膜,该凹部,贯通该绝缘膜而延伸至该半导体基板为止,而该方法包含如下步骤:沿着区隔该凹部之壁面而形成半导体材料的薄膜之步骤;将该被处理体退火,藉由将该被处理体退火,而使该薄膜之半导体材料朝向该凹部的底部移动,形成取决于该半导体基板之结晶的磊晶区域之步骤;以及蚀刻该薄膜之步骤。; annealing the workpiece to cause the semiconductor material of the thin film to move toward a bottom of the depression and to form an epitaxial region corresponding to crystals of the semiconductor substrate; and etching the thin film. |
申请公布号 |
TW201523701 |
申请公布日期 |
2015.06.16 |
申请号 |
TW103128657 |
申请日期 |
2014.08.20 |
申请人 |
东京威力科创股份有限公司 TOKYO ELECTRON LIMITED |
发明人 |
小野寺聪 ONODERA, SATOSHI;铃木大介 SUZUKI, DAISUKE;柿本明修 KAKIMOTO, AKINOBU |
分类号 |
H01L21/205(2006.01);H01L21/324(2006.01);H01L21/67(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/205(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
周良谋周良吉 |
主权项 |
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地址 |
日本 JP |