发明名称 凹部之充塡方法及处理装置;DEPRESSION FILLING METHOD AND PROCESSING APPARATUS
摘要 本发明提供一种凹部之充填方法及处理装置,该凹部之充填方法,充填被处理体的凹部,该被处理体,具有半导体基板及设置于该半导体基板上之绝缘膜,该凹部,贯通该绝缘膜而延伸至该半导体基板为止,而该方法包含如下步骤:沿着区隔该凹部之壁面而形成半导体材料的薄膜之步骤;将该被处理体退火,藉由将该被处理体退火,而使该薄膜之半导体材料朝向该凹部的底部移动,形成取决于该半导体基板之结晶的磊晶区域之步骤;以及蚀刻该薄膜之步骤。; annealing the workpiece to cause the semiconductor material of the thin film to move toward a bottom of the depression and to form an epitaxial region corresponding to crystals of the semiconductor substrate; and etching the thin film.
申请公布号 TW201523701 申请公布日期 2015.06.16
申请号 TW103128657 申请日期 2014.08.20
申请人 东京威力科创股份有限公司 TOKYO ELECTRON LIMITED 发明人 小野寺聪 ONODERA, SATOSHI;铃木大介 SUZUKI, DAISUKE;柿本明修 KAKIMOTO, AKINOBU
分类号 H01L21/205(2006.01);H01L21/324(2006.01);H01L21/67(2006.01) 主分类号 H01L21/205(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋周良吉
主权项
地址 日本 JP