发明名称 检测治具
摘要 一种检测治具,包含有一基板、一载板、二导接件及一补偿件。该基板上布设有一讯号线路及一接地线路。该载板设置于该基板上,具有一基材及一布设于该基材的导接线路,该基材以绝缘体制成,而该导接线路以导体制成,该基材有一讯号贯孔正对该讯号线路、一接地贯孔该接地线路、及复数补偿孔。该等导接件以导体制成分别设于该讯号贯孔与该接地贯孔中,且该二导接件的一端分别与该讯号线路及该接地线路接抵,而另一端分别凸出至该载板外。该补偿件以导体制成且设置于其中一该补偿孔中,并透过该导接线路与位于该接地贯孔中之导接件电性连接。
申请公布号 TW201522974 申请公布日期 2015.06.16
申请号 TW102146097 申请日期 2013.12.13
申请人 旺矽科技股份有限公司 MPI CORPORATION 发明人 顾伟正 KU, WEI CHENG;魏豪 WEI, HAO;周嘉南 JHOU, JIA NAN;何志浩 HO, CHIH HAO
分类号 G01R1/04(2006.01);G01R1/06(2006.01) 主分类号 G01R1/04(2006.01)
代理机构 代理人 廖钲达
主权项
地址 新竹县竹北市中和街155号1至3楼 TW