发明名称 检查装置;INSPECTION APPARATUS
摘要 一种能降低杂讯效应的检查装置,根据本发明的一检查装置包括设置有一物体的一工作台26、设置在该工作台26上方的一固定体28、支承有一探针触针38a的一探针组件、支撑在该固定体28上方的一支撑基座构件40、在该工作台26上方支撑该探针组件38的一悬架机构46、以及包括一IC晶片54a于其中的一讯号电路基板54,用于产生提供至该探针触针38a的一检查讯号,该讯号电路基板54藉由该悬架机构46而支撑在该悬架机构46的下方,且该讯号电路基板54中的该探针组件38与该支撑基座构件40相互电绝缘。
申请公布号 TW201522983 申请公布日期 2015.06.16
申请号 TW103137380 申请日期 2014.10.29
申请人 日本麦克隆尼股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS 发明人 工藤隆善 KUDO, TAKAYOSHI
分类号 G01R1/073(2006.01);G01R31/00(2006.01);G02F1/13(2006.01) 主分类号 G01R1/073(2006.01)
代理机构 代理人 林志青
主权项
地址 日本 JP