发明名称 |
检查装置;INSPECTION APPARATUS |
摘要 |
一种能降低杂讯效应的检查装置,根据本发明的一检查装置包括设置有一物体的一工作台26、设置在该工作台26上方的一固定体28、支承有一探针触针38a的一探针组件、支撑在该固定体28上方的一支撑基座构件40、在该工作台26上方支撑该探针组件38的一悬架机构46、以及包括一IC晶片54a于其中的一讯号电路基板54,用于产生提供至该探针触针38a的一检查讯号,该讯号电路基板54藉由该悬架机构46而支撑在该悬架机构46的下方,且该讯号电路基板54中的该探针组件38与该支撑基座构件40相互电绝缘。 |
申请公布号 |
TW201522983 |
申请公布日期 |
2015.06.16 |
申请号 |
TW103137380 |
申请日期 |
2014.10.29 |
申请人 |
日本麦克隆尼股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS |
发明人 |
工藤隆善 KUDO, TAKAYOSHI |
分类号 |
G01R1/073(2006.01);G01R31/00(2006.01);G02F1/13(2006.01) |
主分类号 |
G01R1/073(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
林志青 |
主权项 |
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地址 |
日本 JP |