| 发明名称 | 半导体元件用之测试设备及半导体元件之测试方法 | ||
| 摘要 | |||
| 申请公布号 | TWI487922 | 申请公布日期 | 2015.06.11 |
| 申请号 | TW102126419 | 申请日期 | 2013.07.24 |
| 申请人 | 矽品精密工业股份有限公司 | 发明人 | 范光庆;李信宏 |
| 分类号 | G01R31/26;G01R31/28 | 主分类号 | G01R31/26 |
| 代理机构 | 代理人 | 陈昭诚 台北市中正区杭州南路1段15之1号9楼 | |
| 主权项 | 一种半导体元件用之测试设备，系包括：至少一架体，系用以置于一平面上以架设半导体元件，使该半导体元件之相对两表面之任一表面与该平面呈垂直；以及测试装置，系用以电性连接至该半导体元件之相对两表面，以进行测试。 | ||
| 地址 | 台中市潭子区大丰路3段123号 | ||