发明名称 制造具有闸极堆叠结构之半导体元件之方法
摘要
申请公布号 TWI488223 申请公布日期 2015.06.11
申请号 TW096146218 申请日期 2007.12.05
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 林宽容;梁洪善;赵兴在;金兑京;金龙水;成敏圭
分类号 H01L21/28 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;丁国隆 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 一种制造半导体元件之方法,该方法包含:于基板上方形成第一导电层;于该第一导电层上方形成中间结构,该中间结构系形成为堆叠结构,该堆叠结构至少包含第一金属层、一形成在第一金属层上方的第二金属层、及形成在该第二金属层上方的含氮金属矽化物层,其中该第一金属层含有含钛层与含钽层中之一种;及于该中间结构上方形成第二导电层。
地址 南韩