Nicht-invasive Stoffanalyse

摘要

Gezeigt werden ein Verfahren und ein System zum Analysieren eines Stoffes (100). Das Verfahren umfasst die folgenden Schritte: Anordnen eines optischen Mediums (10) auf einer Stoffoberfläche, so dass zumindest ein Bereich der Oberfläche (12) des optischen Mediums (10) in Kontakt mit der Stoffoberfläche steht; Aussenden eines Anregungs-Lichtstrahls mit einer Anregungswellenlänge durch den Bereich der Oberfläche (12) des optischen Mediums (10), der in Kontakt mit der Stoffoberfläche steht, auf die Stoffoberfläche; Aussenden eines Mess-Lichtstrahls durch das optische Medium (10) auf den Bereich der Oberfläche (12) des optischen Mediums (10), der in direktem Kontakt mit der Stoffoberfläche steht, derart, dass der Mess-Lichtstrahl und der Anregungs-Lichtstrahl auf der Grenzfläche des optischen Mediums (10) und der Stoffoberfläche, an der der Mess-Lichtstrahl reflektiert wird, überlappen; direktes oder indirektes Detektieren einer Ablenkung des reflektierten Mess-Lichtstrahls in Abhängigkeit von der Wellenlänge des Anregungs-Lichtstrahls; und Analysieren des Stoffes (100) anhand der detektierten Ablenkung des Mess-Lichtstrahls in Abhängigkeit von der Wellenlänge des Anregungs-Lichtstrahls.