发明名称 粒状体分选装置
摘要
申请公布号 TWI487575 申请公布日期 2015.06.11
申请号 TW101105853 申请日期 2012.02.22
申请人 久保田股份有限公司 发明人 池田直人;山原成晃;松井昭男
分类号 B07C5/342;G01N21/85 主分类号 B07C5/342
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种粒状体分选装置,系设置有:移送手段,系将粒状体群以通过计测对象场所的方式来作移送;和受光手段,系受光在前述计测对象场所处之从粒状体而来之光;和照明手段,系对于前述计测对象场所进行照明;和评价处理手段,系实行根据前述受光手段之受光资讯来判别其是否为成为分离对象之粒状体的粒状体判别处理,该粒状体分选装置,其特征为:作为前述计测对象场所,系以在粒状体之移送方向上而位置互为相异的状态,来分别设定有用以计测在粒状体之表面所反射了的反射光之反射光计测场所、和用以受光透过了粒状体之透过光的透过光计测场所,前述受光手段,系构成为具备有:在从粒状体之移送方向来作观察时,相对于前述计测对象场所而位置于其中一侧处并受光前述反射光之其中一侧之反射光受光手段、和在从粒状体之移送方向来作观察时,相对于前述计测对象场所而位置于与前述其中一侧之场所相差180度的另外一侧处并受光前述反射光之另外一侧之反射光受光手段、以及位置在前述计测对象场所之其中一侧或者是另外一侧的其中一侧处并受光前述透过光之透过光受光手段,前述照明手段,系构成为具备有:在从粒状体之移送 方向来作观察时,相对于前述计测对象场所而位置于其中一侧处并对于前述反射光计测场所进行照明之其中一侧照明手段、和在从粒状体之移送方向来作观察时,相对于前述计测对象场所而位置于与前述另外一侧处并对于前述反射光计测场所进行照明之另外一侧照明手段、以及位置在前述计测对象场所之其中一侧或者是另外一侧之中的与前述透过光受光装置相反侧处,并对于透过光计测场所进行照明之透过光照明手段,前述评价处理手段,系构成为根据前述其中一侧之反射光受光手段、前述另外一侧之反射光受光手段、以及前述透过光受光手段,该些之各别的检测资讯,来实行前述粒状体判别处理。
地址 日本
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