| 发明名称 | 阵列基板、阵列基板的制造方法和显示装置 | ||
| 摘要 | 本发明是关于一种阵列基板、阵列基板的制造方法和显示装置，涉及显示技术领域。该阵列基板包括：连接工作电路接口和测试接口的测试线路；测试线路上包含至少一个断开点，测试线路上每个断开点的两端都设置有贯通到阵列基板上表面的导电接点；在对工作电路进行测试时，通过导通所有断开点的两端的导电接点能够实现测试线路的导通。本发明通过在形成测试线路时，在测试线路上设置至少一个断开点，使断开点分割而成的子测试线路都不会过长，减小了测试线路过长时产生的天线效应，解决了相关技术中细长的测试线路容易因为天线效应而聚集较多的电荷，这些电荷可能损坏工作电路的问题；达到了测试线路不会因为天线效应损坏工作电路的效果。 | ||
| 申请公布号 | CN104701327A | 申请公布日期 | 2015.06.10 |
| 申请号 | CN201510125812.3 | 申请日期 | 2015.03.20 |
| 申请人 | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 | 发明人 | 樊浩原;辛燕霞;杨玉清 |
| 分类号 | H01L27/12(2006.01)I;H01L21/77(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I | 主分类号 | H01L27/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人 | 鞠永善 |
| 主权项 | 一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括：连接工作电路接口和测试接口的测试线路；其中，所述测试线路上包含至少一个断开点，所述测试线路上每个所述断开点的两端都设置有贯通到所述阵列基板上表面的导电接点；在对所述工作电路进行测试时，通过导通所有所述断开点的两端的导电接点能够实现所述测试线路的导通。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 | ||