发明名称 一种极高分辨率光谱测量装置及方法
摘要 本发明公开了一种极高分辨率光谱测量装置及方法,光谱测量装置包括FP干涉仪、SBS滤波器、探测器、数据采集模块和控制模块;FP干涉仪的第一输入端用于连接待测信号,FP干涉仪的第二输入端连接至控制模块的第一输出端;SBS滤波器的第一输入端连接至FP干涉仪的输出端,所述SBS滤波器的第二输入端连接至控制模块的第二输出端,探测器的输入端连接至SBS滤波器的第一输出端,数据采集模块的第一输入端连接至探测器的输出端,数据采集模块的第二输入端连接至SBS滤波器的第二输出端,控制模块的输入输出端连接至数据采集模块的输出输入端。本发明可以提高光谱测量分辨率的同时获得比现有FP干涉仪更大的测量范围。
申请公布号 CN104697634A 申请公布日期 2015.06.10
申请号 CN201510107118.9 申请日期 2015.03.11
申请人 华中科技大学 发明人 柯昌剑;谭芷莹;罗志祥;刘德明
分类号 G01J3/45(2006.01)I 主分类号 G01J3/45(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 廖盈春
主权项 一种极高分辨率光谱测量装置,其特征在于,包括FP干涉仪、SBS滤波器、探测器、数据采集模块和控制模块;所述FP干涉仪的第一输入端用于连接待测信号,所述FP干涉仪的第二输入端连接至所述控制模块的第一输出端;所述FP干涉仪用于将待测信号转换为分立的窄带成分;所述SBS滤波器的第一输入端连接至所述FP干涉仪的输出端,所述SBS滤波器的第二输入端连接至所述控制模块的第二输出端;所述SBS滤波器用于选择放大其中一个窄带成分并产生后向散射信号;所述探测器的输入端连接至所述SBS滤波器的第一输出端,所述数据采集模块的第一输入端连接至所述探测器的输出端,所述数据采集模块的第二输入端连接至所述SBS滤波器的第二输出端;所述后向散射信号经所述探测器后转换为电流信号,所述数据采集模块用于采集所述电流信号;所述控制模块的输入输出端连接至所述数据采集模块的输出输入端;所述控制模块用于发出信号控制所述FP干涉仪和所述SBS滤波器同步扫描,SBS增益峰对所述FP干涉仪工作的透射峰依次进行选择,使得测量范围不再局限于一个自由光谱范围,从而获得比现有FP干涉仪更大的测量范围。
地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
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