发明名称 | 一种极高分辨率光谱测量装置及方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种极高分辨率光谱测量装置及方法,光谱测量装置包括FP干涉仪、SBS滤波器、探测器、数据采集模块和控制模块;FP干涉仪的第一输入端用于连接待测信号,FP干涉仪的第二输入端连接至控制模块的第一输出端;SBS滤波器的第一输入端连接至FP干涉仪的输出端,所述SBS滤波器的第二输入端连接至控制模块的第二输出端,探测器的输入端连接至SBS滤波器的第一输出端,数据采集模块的第一输入端连接至探测器的输出端,数据采集模块的第二输入端连接至SBS滤波器的第二输出端,控制模块的输入输出端连接至数据采集模块的输出输入端。本发明可以提高光谱测量分辨率的同时获得比现有FP干涉仪更大的测量范围。 | ||
申请公布号 | CN104697634A | 申请公布日期 | 2015.06.10 |
申请号 | CN201510107118.9 | 申请日期 | 2015.03.11 |
申请人 | 华中科技大学 | 发明人 | 柯昌剑;谭芷莹;罗志祥;刘德明 |
分类号 | G01J3/45(2006.01)I | 主分类号 | G01J3/45(2006.01)I |
代理机构 | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人 | 廖盈春 |
主权项 | 一种极高分辨率光谱测量装置,其特征在于,包括FP干涉仪、SBS滤波器、探测器、数据采集模块和控制模块;所述FP干涉仪的第一输入端用于连接待测信号,所述FP干涉仪的第二输入端连接至所述控制模块的第一输出端;所述FP干涉仪用于将待测信号转换为分立的窄带成分;所述SBS滤波器的第一输入端连接至所述FP干涉仪的输出端,所述SBS滤波器的第二输入端连接至所述控制模块的第二输出端;所述SBS滤波器用于选择放大其中一个窄带成分并产生后向散射信号;所述探测器的输入端连接至所述SBS滤波器的第一输出端,所述数据采集模块的第一输入端连接至所述探测器的输出端,所述数据采集模块的第二输入端连接至所述SBS滤波器的第二输出端;所述后向散射信号经所述探测器后转换为电流信号,所述数据采集模块用于采集所述电流信号;所述控制模块的输入输出端连接至所述数据采集模块的输出输入端;所述控制模块用于发出信号控制所述FP干涉仪和所述SBS滤波器同步扫描,SBS增益峰对所述FP干涉仪工作的透射峰依次进行选择,使得测量范围不再局限于一个自由光谱范围,从而获得比现有FP干涉仪更大的测量范围。 | ||
地址 | 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |