| 发明名称 | 荧光检查设备及其降低荧光检查剂量的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种降低荧光检查剂量的方法，可根据受检者的体型设置初始剂量，使之更接近目标剂量。该方法包括以下步骤：测量受检者的厚度；根据一检查剂量-受检者厚度关系曲线，确定该受检者的初始检查剂量；依据该初始检查剂量发射X射线，对受检者进行检查；以及根据所获得的受检者图像，调整检查剂量，对受检者再次进行检查，直到获得可接受的受检者图像。 | ||
| 申请公布号 | CN102949193B | 申请公布日期 | 2015.06.10 |
| 申请号 | CN201110241199.3 | 申请日期 | 2011.08.22 |
| 申请人 | 上海联影医疗科技有限公司 | 发明人 | 向军;骆志坚 |
| 分类号 | A61B6/00(2006.01)I | 主分类号 | A61B6/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 骆希聪 |
| 主权项 | 一种降低荧光检查剂量的方法，适用于一荧光检查设备，该方法包括以下步骤：测量受检者的厚度；根据该受检者的厚度及一检查剂量‑受检者厚度关系曲线，确定该受检者的初始检查剂量；依据该初始检查剂量发射X射线，对受检者进行检查；以及根据所获得的受检者图像，调整检查剂量，对受检者再次进行检查，直到获得可接受的受检者图像。 | ||
| 地址 | 201821 上海市嘉定区嘉定工业区普惠路333号3幢1098室 | ||