发明名称 表面状態測定分析情報管理システムおよび表面状態測定分析情報管理方法
摘要 対象となる表面を継続して定期的に撮影した場合に、撮影された画像データを有効に利用可能とするとともに、動画やスライドショーとして表示可能にできる表面状態測定分析情報管理システムおよび表面状態測定分析情報管理方法を提供する。時間経過に対応して対象となる表面が順次撮影されるとともに、撮影された画像データが順次記憶される場合に、順次記憶される画像同士を比較して、画像同士に、互いに略一致する画像領域が有るか否かを判定する。互いに略一致する画像領域がある画像がある場合に、一方の画像を基準とする座標系を設定し、この一方の画像と互いに略一致する画像領域を重ねた状態の他方の画像の座標系における位置を決定する。位置が決定した画像に対して、それ以後撮影される画像を含めて位置が決定していない画像が重なる場合に、その画像の位置を決定する。
申请公布号 JP5731724(B1) 申请公布日期 2015.06.10
申请号 JP20150504807 申请日期 2014.10.23
申请人 日立マクセル株式会社 发明人 中島 弘恵;吉村 雅志
分类号 A61B5/107;A61B5/00 主分类号 A61B5/107
代理机构 代理人
主权项
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