发明名称 | 存储器器件及其制造方法 | ||
摘要 | 本发明提供了存储器器件及其制造方法。磁存储器器件可以包括基板和在基板上的磁隧道结存储器元件。磁隧道结存储器元件可以包括参考磁层、隧道阻挡层和自由磁层。参考磁层可以包括第一被钉扎层、交换耦合层和第二被钉扎层。交换耦合层可以在第一被钉扎层和第二被钉扎层之间,第二被钉扎层可以包括铁磁层和非磁性层。第二被钉扎层可以在第一被钉扎层和隧道阻挡层之间,隧道阻挡层可以在参考磁层和自由磁层之间。 | ||
申请公布号 | CN104700882A | 申请公布日期 | 2015.06.10 |
申请号 | CN201410746475.5 | 申请日期 | 2014.12.09 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 朴相奂;朴淳五;金相溶;李俊明 |
分类号 | G11C11/15(2006.01)I | 主分类号 | G11C11/15(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 屈玉华 |
主权项 | 一种磁存储器器件,包括:基板;以及在所述基板上的磁隧道结存储器元件,其中所述磁隧道结存储器元件包括:参考磁层,包括第一被钉扎层、交换耦合层和第二被钉扎层,其中所述交换耦合层在所述第一被钉扎层和第二被钉扎层之间,其中所述第二被钉扎层包括铁磁层和非磁性层,隧道阻挡层,其中所述第二被钉扎层在所述第一被钉扎层和所述隧道阻挡层之间,和自由磁层,其中所述隧道阻挡层在所述参考磁层和所述自由磁层之间。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |