发明名称 存储器器件及其制造方法
摘要 本发明提供了存储器器件及其制造方法。磁存储器器件可以包括基板和在基板上的磁隧道结存储器元件。磁隧道结存储器元件可以包括参考磁层、隧道阻挡层和自由磁层。参考磁层可以包括第一被钉扎层、交换耦合层和第二被钉扎层。交换耦合层可以在第一被钉扎层和第二被钉扎层之间,第二被钉扎层可以包括铁磁层和非磁性层。第二被钉扎层可以在第一被钉扎层和隧道阻挡层之间,隧道阻挡层可以在参考磁层和自由磁层之间。
申请公布号 CN104700882A 申请公布日期 2015.06.10
申请号 CN201410746475.5 申请日期 2014.12.09
申请人 三星电子株式会社 发明人 朴相奂;朴淳五;金相溶;李俊明
分类号 G11C11/15(2006.01)I 主分类号 G11C11/15(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 屈玉华
主权项 一种磁存储器器件,包括:基板;以及在所述基板上的磁隧道结存储器元件,其中所述磁隧道结存储器元件包括:参考磁层,包括第一被钉扎层、交换耦合层和第二被钉扎层,其中所述交换耦合层在所述第一被钉扎层和第二被钉扎层之间,其中所述第二被钉扎层包括铁磁层和非磁性层,隧道阻挡层,其中所述第二被钉扎层在所述第一被钉扎层和所述隧道阻挡层之间,和自由磁层,其中所述隧道阻挡层在所述参考磁层和所述自由磁层之间。
地址 韩国京畿道