| 发明名称 | 高密度金手指探针式对准测试治具 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种高密度金手指探针式对准测试治具，一端用于对接待测金手指，另一端用于对接外部测试装置的金手指，该对准测试治具包括与外部测试装置的金手指电连接且与待测金手指形成电连接的探针和用于安装探针的安装座；所述安装座为中空、两端敞口结构，所述安装座内还设有与探针一体成型的对位导套孔，本实用新型改善了外部测试装置的金手指与待测金手指的对位精度.增加了金手指电性参数检测的可靠性和准确性。 | ||
| 申请公布号 | CN204389616U | 申请公布日期 | 2015.06.10 |
| 申请号 | CN201520072323.1 | 申请日期 | 2015.02.02 |
| 申请人 | 昆山意力电路世界有限公司 | 发明人 | 黄柏翰;蓝国凡;邱金启 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京天平专利商标代理有限公司 11239 | 代理人 | 王雅辉 |
| 主权项 | 一种高密度金手指探针式对准测试治具，一端用于对接待测金手指，另一端用于对接外部测试装置的金手指，其特征在于：包括与外部测试装置的金手指电连接且与待测金手指形成电连接的探针和用于安装探针的安装座；所述安装座为中空、两端敞口结构，所述安装座内还设有与探针一体成型的对位导套孔。 | ||
| 地址 | 215301 江苏省苏州市昆山市经济技术开发区黄浦江南路269号 | ||