一种新颖的X波段微带环行器调试测试装置

摘要

本实用新型属于微波通讯器件领域，涉及一种X波段微带环行器的测试和调试。一种新颖的X波段微带环行器调试测试装置，包括校准件、测试件两部分。本实用新型可以用于X波段微带环行器的调试和测试中，简单方便，也可以应用于其他频段(比如：C、S、Ku、Ka波段)的微带环行器调试和测试中。

主权项

一种新颖的X波段微带环行器调试测试装置，其特征是，包括校准件、测试件两部分；校准件包括底座、基板、两个SMP接头；底座为矩形体结构，底座两端具有竖直的墙壁结构，两侧墙壁内相应位置各有两个SMP接头安装孔，两个SMP接头焊接在安装孔内，基板固定在底座的上表面，基板的上表面设有拐弯的微带线，微带线的两端分别固定于两SMP接头，并且微带线的两端均垂直于SMP接头的固定面；测试件包括底座、三块基板、三个SMP接头，底座也为矩形体结构，三块基板均焊接在底座上表面，底座的两端具有竖直墙壁结构，其中一个墙壁内相应位置有两个SMP安装孔，另外一个墙壁内相应位置有一个SMP安装孔，三个SMP接头分别锡焊焊接到安装孔内，每块基板上表面均有微带线，每条微带线的一端焊接固定于所在的SMP接头并且垂直于SMP接头的固定面，每条微带线的另一端设有测试引出端口悬于所在基板外，测试引出端口之间的距离等于待测环行器微带线的宽度，三块基板之间的位置设置槽，空间容纳压块，压块能够将测试引出端口紧压在待测环行器的三端口处；上述校准件的微带线长度为测试件任意两条外微带线的长度之和。