发明名称 一种土壤属性高光谱识别的技术方法
摘要 本发明是一种土壤属性高光谱识别技术方法,涉及土壤勘探技术领域。该方法包括:S1,基于遥感卫星数据,获取不同时间的土壤高光谱图像;S2,进行图像预处理后,经过监督分类得到裸露土壤,提取所述裸露土壤的地表反射率,依据所述裸露土壤的地表反射率建立裸露土壤地表反射率反演模型;S3,设计室内土壤侵蚀性试验,获取与所述土壤高光谱图像获得时间相对应的土壤可蚀性数据;S4,通过步骤S3获得的土壤可蚀性数据,获取土壤分类并计算土壤K值;S5,根据所述土壤K值和所述地表反射率反演模型中的光谱数据,建立影响可蚀性K的土壤属性的高光谱模型。本发明解决了高光谱遥感技术不能用于测定土壤可蚀性的问题。
申请公布号 CN104697937A 申请公布日期 2015.06.10
申请号 CN201510119440.3 申请日期 2015.03.18
申请人 北京师范大学 发明人 王国强;方青青;李嘉薇;杨会彩;张磊
分类号 G01N21/25(2006.01)I 主分类号 G01N21/25(2006.01)I
代理机构 北京市盛峰律师事务所 11337 代理人 于国富
主权项 一种土壤属性高光谱识别技术方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:S1,基于遥感卫星数据,获取不同时间的土壤高光谱图像;S2,对所述土壤的高光谱图像进行预处理,经过监督分类得到裸露土壤,然后提取所述裸露土壤的地表反射率,依据所述裸露土壤的地表反射率建立裸露土壤地表反射率反演模型;S3,设计室内土壤侵蚀性试验,获得与所述土壤高光谱图像获取时间相对应的土壤可蚀性数据;所述土壤可蚀性数据包括:降雨前实测土壤的反射率和降雨后实测土壤的反射率;S4,通过获得的土壤可蚀性数据,进行土壤分类并计算土壤K值;S5,根据所述土壤K值和所述裸露土壤地表反射率反演模型中的光谱数据,建立影响可蚀性K的土壤属性的高光谱模型。
地址 100875 北京市海淀区新街口外大街19号