发明名称 |
QFN封装-高速IC协同设计信号完整性分析方法 |
摘要 |
本申请公开了一种QFN封装-高速IC协同设计信号完整性分析方法。结合了QFN封装以及在片内设计了针对高速IC信号完整性测试电路,可以分析高速信号的信号完整性。该方法通用性强,面积小,可以分析高速信号,提高信号完整性分析的准确度。其包括降频电路和端接电路。其特征在于芯片内集成信号完整性测试电路集成度高,面积小,可测试高速IC信号。 |
申请公布号 |
CN104701299A |
申请公布日期 |
2015.06.10 |
申请号 |
CN201310661510.9 |
申请日期 |
2013.12.06 |
申请人 |
上海北京大学微电子研究院 |
发明人 |
郑若彤;程玉华 |
分类号 |
H01L23/544(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/544(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种QFN封装‑高速IC协同设计信号完整性分析方法,其包括基于QFN封装‑高速IC协同设计信号完整性分析方法,芯片内集成信号完整性测试电路;其特征在于芯片内集成信号完整性测试电路;被测芯片核的输出信号直接进入芯片内集成信号完整性测试电路,作为第一级DFF(D触发器)的时钟;芯片内集成信号完整性测试电路输出信号直接连到QFN导电焊盘。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区盛夏路608号 |