发明名称 |
一种双端SRAM单元 |
摘要 |
本发明公开了一种双端SRAM单元,该SRAM单元包括CMOS反相器、与所述CMOS反相器相连的第一PMOS晶体管、与所述第一PMOS晶体管相连的第一电阻、与所述第一PMOS晶体管相连的第一传输晶体管及与所述CMOS反相器相连的第二传输晶体管,所述第一传输晶体管为写入操作传输晶体管,所述第二传输晶体管为读取操作传输晶体管,本发明提供的双端SRAM单元仅包含5个晶体管,因而大大节约了双端SRAM单元的面积,并且所述第一电阻的阻值比导通状态下的第一PMOS晶体管的阻值和第一传输晶体管的阻值大几个数量级,比关闭状态下的第一PMOS晶体管的阻值和第一传输晶体管的阻值小几个数量级,从而使得写“0”和写“1”操作都能顺利进行。 |
申请公布号 |
CN101840728B |
申请公布日期 |
2015.06.10 |
申请号 |
CN201010187381.0 |
申请日期 |
2010.05.28 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
胡剑 |
分类号 |
G11C11/413(2006.01)I |
主分类号 |
G11C11/413(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
郑玮 |
主权项 |
一种双端SRAM单元,其特征在于,包括:CMOS反相器,所述CMOS反相器连接在正电源电压和电源地之间;第一PMOS晶体管,所述第一PMOS晶体管的源极接正电源电压,其栅极与所述CMOS反相器的输出端相连,其漏极与所述CMOS反相器的输入端相连;第一电阻,所述第一电阻的一端与所述第一PMOS晶体管的漏极相连,其另一端接电源地;第一传输晶体管,所述第一传输晶体管的源极与所述第一PMOS晶体管的漏极相连,其漏极与第一位线相连,其栅极与第一字线相连,或:所述第一传输晶体管的漏极与所述第一PMOS晶体管的漏极相连,其源极与第一位线相连,其栅极与第一字线相连;以及第二传输晶体管,所述第二传输晶体管的源极与所述CMOS反相器的输出端相连,其漏极与第二位线相连,其栅极与第二字线相连,或:所述第二传输晶体管的漏极与所述CMOS反相器的输出端相连,其源极与第一位线相连,其栅极与第二字线相连。 |
地址 |
201203 上海市张江高科技园区祖冲之路1399号 |