| 发明名称 | 测量系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种测量系统，所述测量系统包括：发射器，用于产生并发射射线；多维位移平台，用于容置电离室，所述电离室用于接收所述发射器发射的射线，从而在垂直射线的平面内或者沿着射线方向进行探测；接收器，用于接收并记录电离室中产生的射线信号。本发明测量系统实现了方便和精确的对电离室位置的多维调节的情况下进行测量。 | ||
| 申请公布号 | CN104697570A | 申请公布日期 | 2015.06.10 |
| 申请号 | CN201510112071.5 | 申请日期 | 2015.03.13 |
| 申请人 | 中国计量科学研究院 | 发明人 | 金孙均;王坤;黄骥;范耀东;杨元第;张健 |
| 分类号 | G01D21/00(2006.01)I | 主分类号 | G01D21/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 | 代理人 | 李楠 |
| 主权项 | 一种测量系统，其特征在于，所述测量系统包括：发射器，用于产生并发射射线；多维位移平台，用于容置电离室，所述电离室用于接收所述发射器发射的射线，从而在垂直射线的平面内或者沿着射线方向进行探测；接收器，用于接收并记录电离室中产生的射线信号。 | ||
| 地址 | 100029 北京市朝阳区北三环东路18号 | ||