发明名称 修复内存装置
摘要 方法包括在内存封装在计算机系统中的实际使用期间,使用第一接口访问该内存封装的缺陷地址内存。该缺陷地址内存可由该内存封装的制造商在实际使用之前使用该内存封装的与第一接口不同的第二接口访问。与该内存封装的实际使用相关地,修复该内存封装,修复包括存储该缺陷地址内存中的缺陷地址来改变存储阵列的至少一个单元的地址映射。
申请公布号 CN104704572A 申请公布日期 2015.06.10
申请号 CN201280076289.4 申请日期 2012.10.31
申请人 惠普发展公司,有限责任合伙企业 发明人 麦尔文·K·贝内迪克特;埃里克·L·波珀;热扎·M·巴克斯;盖伊·E·麦克斯韦恩;约瑟夫·威廉姆·法伊
分类号 G11C29/00(2006.01)I;G06F11/22(2006.01)I 主分类号 G11C29/00(2006.01)I
代理机构 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人 柴德海;康泉
主权项 一种方法,包括:在内存封装在计算机系统中的第一实际使用期间,使用所述内存装置的第一接口访问所述内存装置的存储阵列;在所述内存装置的第二实际使用期间,使用所述第一接口访问所述内存装置的缺陷地址内存,所述缺陷地址内存能在所述第一实际使用和所述第二实际使用之前由所述内存装置的制造商使用与所述第一接口不同的第二接口访问;以及与使用所述第一接口访问所述缺陷地址内存相关地,修复所述内存装置,所述修复包括存储所述缺陷地址内存中的缺陷地址,以改变所述存储阵列的至少一个单元的地址映射。
地址 美国德克萨斯州