发明名称 |
一种栅源和栅漏过压保护的晶体管功率器件及其制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种栅源和栅漏过压保护的晶体管功率器件,包括硅片、栅氧化层、多晶硅层、栅电极、源电极和漏电极,其中;还包括一P+区域和一N+区域,所述P+区域和所述N+区域分别设置在所述源电极的源区上。本发明各电极保护效果好,具有过压保护,栅区不容易损坏,结构和制造工艺均较简单,使用寿命长。 |
申请公布号 |
CN102280484B |
申请公布日期 |
2015.06.03 |
申请号 |
CN201110224441.6 |
申请日期 |
2011.08.06 |
申请人 |
深圳市稳先微电子有限公司 |
发明人 |
王新 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I;H01L27/02(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种栅源和栅漏过压保护的晶体管功率器件,包括硅片、栅氧化层、多晶硅层、栅电极、源电极和漏电极,其特征在于;还包括一P+区域和一N+区域,所述P+区域和所述N+区域分别设置在所述源电极的源区上;对应所述N+区域,还包括一二极管,所述 N+区域与所述二极管串联,形成栅源二极管保护区域;对应所述P+区域,还包括一二极管,所述P+区域与所述二极管串联,形成栅漏二极管保护区域。 |
地址 |
518000 广东省深圳市福田区车公庙天安数码城创新科技广场二期东座1002室 |