发明名称 一种用于探针式微波电压测量系统的校准装置、系统及方法
摘要 本发明公开一种用于探针式微波电压测量系统的校准装置,该装置包括微波信号输入端、微波信号输出端,所述该装置还包括标准微带线、探针负极触盘、探针负极触点、探针正极触点、探针定位支架;所述标准微带线,用于传输由微波信号输入端输入的微波信号;所述微波信号输出端,用于输出来自标准微带线的微波信号;所述探针负极触盘采用切角设计;所述探针负极触点、探针正极触点和所述探针定位支架点,用于对探针进行定位。本发明所述技术方案,基于电路并联等压原理,可以将微波电压校准结果溯源到50Ω系统的功率参数,适用于任意非零阻抗探针式微波电压测量系统的校准,能够提高非50Ω微波电压测量系统的准确性。
申请公布号 CN104678339A 申请公布日期 2015.06.03
申请号 CN201510072783.9 申请日期 2015.02.11
申请人 北京无线电计量测试研究所 发明人 李贵兰;马蔚宇;黄建领;叶娟
分类号 G01R35/00(2006.01)I 主分类号 G01R35/00(2006.01)I
代理机构 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人 张雪梅
主权项 一种用于探针式微波电压测量系统的校准装置,该装置包括微波信号输入端、微波信号输出端,其特征在于,所述该装置进一步包括标准微带线、探针负极触盘、探针负极触点、探针正极触点、探针定位支架;所述标准微带线,用于传输由微波信号输入端输入的微波信号;所述微波信号输出端,用于输出来自标准微带线的微波信号;所述探针负极触盘采用切角设计;所述探针负极触点、探针正极触点和所述探针定位支架,用于对探针进行定位。
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